Tarjeta de sonda MEMS
Las tarjetas de sonda MEMS (sistemas microelectromecánicos) desempeñan un papel clave en las pruebas de semiconductores modernas, proporcionando contactos de prueba precisos a través de sistemas electromecánicos miniaturizados para garantizar una evaluación precisa del rendimiento del chip. Nuestras tarjetas de sonda MEMS combinan tecnología avanzada de micronanomecanizado con un diseño eléctrico de precisión para proporcionar soluciones altamente confiables y precisas para una amplia gama de necesidades de prueba de chips.





Tarjetas de sonda MEMS avanzadas para pruebas de obleas

Tarjeta de sonda MEMS para prueba de obleas CIS
Nuestra tarjeta de sonda MEMS para prueba de obleas CIS (sensor de imagen CMOS) emplea tecnología MEMS 2D avanzada para probar productos CIS. Miles de sondas MEMS están soldadas con láser a un sustrato cerámico, lo que proporciona una distribución excepcional de la sonda de alta densidad con una mínima intervención manual.

Tarjeta de sonda MEMS para prueba de oblea DRAM
Nuestra tarjeta de sonda MEMS para prueba de obleas DRAM, optimizada con tecnología MEMSFLEX, cumple con las demandas de prueba de estos nuevos dispositivos DRAM de alto rendimiento y alta densidad. Mejora la eficiencia y reduce el costo general de las pruebas de DRAM, lo que garantiza un rendimiento confiable en la evaluación de los últimos avances en tecnología de memoria.
Características de la tarjeta de sonda MEMS
- Pruebas de un solo toque: su elección óptima
- Excelente aislamiento de diafonía
- Diseño de sonda de alta densidad y pin alto
- Integridad superior de señal y energía
- Baja resistencia de contacto
- Contacto flexible con rayones mínimos, protegiendo el dispositivo bajo prueba

Contáctenos hoy para descubrir cómo nuestras tarjetas de sonda MEMS avanzadas pueden elevar la eficiencia y precisión de sus pruebas de obleas.